Authorized Distributors
Request a Quote
上海市杨树浦路2310号
白丽大厦204-210室
TEL: 086-21-63046447
FAX: 086-21-
64093523
E-Mail: wyh@dukechina.com
公司简介
产品目录
应用
联系我们
链接
问题解答
新闻
Website Problem
Introduction
Instrument Platform / Method
Industries
Keywords
Glossary
Technical Papers
Bibliographies
>> ENGLISH VERSION
Product Line Size Range Chart
半 导 体 工 业
Page Last Updated: 11/25/2003
Printer-friendly format
用于半导体工业的
Duke
科学产品
用于表面扫描检测系统（
SSIS
）标定的产品尺寸
0.047µm
0.072µm
0.083µm
0.092µm
0.114µm
0.155µm
0.202µm
0.220µm
0.360µm
0.802µm
1.112µm
2.01µm
3.04µm
0.064µm
0.080µm
0.089µm
0.100µm
0.126µm
0.184µm
0.204µm
0.304µm
0.494µm
0.809µm
1.59µm
2.50µm
您所需要的特殊应用产品
各种特殊用途产品
表面扫描检测系统检定（SSIS）
内层硅晶片探测
水性粒子计数器标定
气溶胶粒子计数器标定
HEPA/ULPA
过滤器检测
火源探测器检测
水过滤器检测
生产线水质检测
光罩粒子探测
洁净室粒子监测
HEPA/ULPA
过滤效率检测
烟雾警报性能确认
大气监测微粒
洁净室过滤漏洞检测
粒径标准与控制
实验室质量控制
半导体生产线评估
洁净室证明
过程控制
过滤器检测
NIST
跟踪粒径标准
/
计数控制
产品系列
SURF-CAL
TM
粒子尺寸标准
粒子计数器尺寸标准（
3K/4K
系列）
具有挑战性的
HEPA-CHECK
TM
过滤器粒子
具有挑战性的
SMOKE-CHECK
TM
烟雾检测粒子
荧光聚合物微粒
.gif){kind=tracking}
